Vela Platform 汎用ソフトウェアシステム

できること

• 九つの中核モジュールとカスタム拡張論理制御、画像取得、画像解析処理、動作制御、データ解析、データ通信、温度制御、監視、測定、およびカスタム拡張。
• 常用機能モジュール300以上2D寸法測定、平坦度、段差、接着剤の這い上がり高さ、入出力、移動制御、論理制御、外観欠陥検出...
• SPCレポート：棒グラフ、XBar-R、欠陥円グラフ、CPK
• 標準画面、画面カスタム、二次開発

用途

• 電子・半導体

  • ソルダペーストの3D測定
  • チップ先端とパッケージ外観
  • 部品の高さ、段差、隙間
  • 欠陥検出と画像再判定

• 医療機器

  • 筐体とディスポーザブルの外観
  • 塗布と塗布の完全性
  • 印字後の画像再判定

• 一般製造

  • 金属と樹脂部品の外観
  • 構造接着の高さと切れ
  • 部品番号の印字後再判定

• 車載電子

  • 車載基板の塗布と塗布検査
  • センサとハーネスの画像検査
  • SPCと欠陥分布

• 3C電子

  • Logo高さとBIN分け
  • LED組立と塗布
  • 筐体とアダプタの3D寸法
  • 画像アノテーションと学習

• 太陽光

  • モジュール表面の欠陥検査
  • 印字後の画像再判定
  • リボンとセルの外観

• 光通信

  • 光モジュールの外観とピン
  • 筐体の高さ、段差、隙間
  • 印字後の画像再判定

• AIサーバ

  • マザーボードと加速カードの画像検査
  • 放熱グリスの高さと切れ
  • 再判定とレポート

• 新エネルギーとリチウム電池

  • セルとパックのビード高さ
  • タブと缶の欠陥
  • 工程データとSPC